公益社団法人日本顕微鏡学会 第64回シンポジウム
公益社団法人日本顕微鏡学会 第64回シンポジウム

ランチョン

ランチョン

  • 11月25日(木)
    • カールツァイス株式会社
      セミナータイトル
      :ZEISSのSEM, FIB-SEMアプリケーション ― 3次元解析を中心に
      講演者
      :カールツァイス株式会社 小田武秀、Zheng Shushu
    • 株式会社東陽テクニカ
      セミナータイトル
      :プラズマFIB-SEMの断面作製におけるアーティファクト抑制技術と
       3次元イメージングへの応用
      講演者
      :株式会社東陽テクニカ 兒玉 優
  • 11月26日(金)
    • 株式会社メルビル
      セミナータイトル
      :メルビル社製その場観察システムの紹介
      講演者
      :株式会社メルビル 池澤 周平